X-Y тестер дефектов контактов микросхем и их работоспособности HIOKI 1240

ВНУТРИСХЕМНЫЙ КОНТРОЛЬ ПЕЧАТНЫХ ПЛАТ
по запросу

Производитель: HIOKI
Госреестр СИ:

Уточнить

Доставка и оплата:

Уточнить


X-Y тестер дефектов контактов микросхем и их работоспособности с возможностью измерения номиналов SMD компонентов

X-Y тестер дефектов контактов микросхем и их работоспособности с возможностью измерения номиналов SMD компонентов

Прибор HIOKI 1240 обеспечивает самый точный контроль качества пайки выводов микросхем.

С помощью высокоточных прецезионных измерений проводится четырехконтактное измерение сопротивления, то есть используется метод измерения милиомметром и сравнения с пороговыми значениями.

Минимальный размер дорожки или вывода микросхемы 0,3 мм, шаг 0,5 мм.

При некачественной пайке вывод микросхемы может прилегать не вплотную к дорожкам микросхемы.

В результате на высоких частотах возникают паразитные эффекты, а при воздействии температур и вибрации такая микросхема может отпасть.

оценка качества пайки выводов микросхем для промышленного применения HIOKI 1240

Фотография хорошего и плохого контакта вывода микросхемы с печатной платой

HIOKI 1240 определение правильного или дефектного контакта вывода микросхемы с печатной платой

 

Так же прибор 1240 определяет наличие установленных компонентов, их полярность, точность пайки, отклонения и сдвиги.

HIOKI 1240 определение наличия установленных компонентов, их полярность, точность пайки, отклонения и сдвиги

Отличной функцией является возможность измерения характеристик реле.

измерение характеристик реле HIOKI 1240